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集顯微鏡?SEM?粗糙度儀的功能于一身——形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200 系列
日期：2025-09-10 07:44
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摘要：
3月27日，工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域，銷(xiāo)售傳感器、測(cè)量儀器、顯微系統(tǒng)以及邏輯控制系統(tǒng)的供應(yīng)商，日本知名企業(yè)基恩士在北京召開(kāi)了媒體見(jiàn)面會(huì)。會(huì)上指出將加強(qiáng)在中國(guó)市場(chǎng)「形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的銷(xiāo)售。VK-X100/X200 系列1臺(tái)機(jī)器便可以實(shí)現(xiàn)****的高分辨率大范圍形狀測(cè)量。
「形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的特點(diǎn)如下；
高分辨率，大景深觀察
(1) 高分辨率， **放大24000 倍
(2) 完全聚焦的清晰圖像
(3) 符合溯源性要求
仿佛彩色 SEM
(1) 16 bit 激光彩色觀察
(2) 放置并且測(cè)量，您可以在幾秒鐘內(nèi)進(jìn)行分析
(3) 可拆卸測(cè)量頭單元允許各種尺寸的樣品測(cè)量。可拆卸測(cè)量頭單元可以與其他設(shè)備整合并支持遠(yuǎn)程操作。
無(wú)損輪廓和粗糙度測(cè)量
(1) 非接觸式設(shè)計(jì)，可用于測(cè)量軟質(zhì)的工件
(2) 方便定位測(cè)量區(qū)域
(3) 激光光束波長(zhǎng)比表面粗糙度測(cè)量直徑小
